對(duì)于超聲波測(cè)厚儀探頭類(lèi)型，我們暫且從探頭的外在形狀進(jìn)行分類(lèi)，其實(shí)我們還可以從超聲波測(cè)厚儀探頭的工作頻率進(jìn)行分類(lèi)，還可以從超聲波探頭的材料進(jìn)行分類(lèi)。本節(jié)中，我們綜合下，就從超聲波測(cè)厚儀探頭的應(yīng)用對(duì)其進(jìn)行分類(lèi)。

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簡(jiǎn)單直接的說(shuō)，超聲波測(cè)厚儀探頭類(lèi)型可以分為微型探頭、小管徑探頭、通用探頭、鑄鐵探頭、涂層專(zhuān)業(yè)探頭、高溫探頭等等，也有人將超聲波測(cè)厚儀探頭分為單晶探頭、雙晶探頭、微徑探頭、高溫探頭、通用探頭。粗晶探頭對(duì)應(yīng)細(xì)晶探頭，主要是和頻率有關(guān)，留待下章節(jié)介紹。

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單晶探頭就一個(gè)壓電晶片，其工作方式是自發(fā)自收，單晶探頭探測(cè)的都是比較厚的工件（單直探頭）。雙晶探頭有2個(gè)壓電晶片，其工作方式是一個(gè)發(fā)射一個(gè)接收，雙晶探頭檢測(cè)比較薄的工件。微徑探頭與小管徑探頭較為類(lèi)似，都是為了測(cè)量帶有曲率的圓管材料的厚度，我們知道探頭的平面面積越小，在接觸曲面被測(cè)材料時(shí)，相對(duì)于探頭面積大的探頭接收超聲波信號(hào)會(huì)越多，測(cè)量越準(zhǔn)確。高溫探頭是專(zhuān)門(mén)用來(lái)測(cè)量300度左右的高溫被測(cè)物體的探頭，測(cè)量時(shí)一般探頭接觸被測(cè)物體不超過(guò)5秒，以免時(shí)間過(guò)長(zhǎng)導(dǎo)致探頭或者儀器受損。通用探頭一般是指廠家連同超聲波測(cè)厚儀一同配送的探頭，可以用于較多種類(lèi)的材料厚度測(cè)量。涂層專(zhuān)業(yè)探頭主要用于測(cè)量厚度較薄的被測(cè)測(cè)量。

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為方便大家對(duì)超聲波探頭了解更多，我們整理了以下超聲波探測(cè)儀探頭的一些特點(diǎn)和應(yīng)用，希望大家能夠輔助性的加強(qiáng)記憶：

1、直探頭：主要應(yīng)用于發(fā)射和接收縱波，故又稱(chēng)為縱波探頭。直探頭主要用于探測(cè)與探測(cè)面平行的材料缺陷，如板材、鍛件檢測(cè)。主要由壓電晶片、保護(hù)膜、吸收塊、電纜接頭和外殼等部分組成。

2、斜探頭：又可分為縱波斜探頭、橫波斜探頭和表面波斜探頭。橫波探頭是利用橫波檢測(cè)探測(cè)與探測(cè)面垂直或成一定角度的材料缺陷，如焊縫檢測(cè)、汽輪機(jī)葉輪檢測(cè)等。橫波斜探頭實(shí)際上是直探頭加透聲斜楔組成。由于晶片不直接與工作接觸，因此這里直探頭沒(méi)有保護(hù)膜。

3、雙晶探頭：又稱(chēng)組合式或分割式探頭。兩塊壓電晶片裝在一個(gè)探頭架內(nèi)，一個(gè)晶片負(fù)責(zé)發(fā)射信號(hào)，另一個(gè)晶片接收信號(hào)，它們發(fā)射和接收縱波。晶片下的延遲塊（有機(jī)玻璃或環(huán)氧樹(shù)脂）使聲波延遲一段時(shí)間后射人工件，從而可檢測(cè)近表面缺陷，減小了盲區(qū)，并可提高分辨力。兩晶片之間是用隔聲層分開(kāi)，這個(gè)隔層通常稱(chēng)為界面，晶片間的傾角通常在3-18°之間。兩晶片聲場(chǎng)的重疊部分是檢測(cè)靈敏度的最高區(qū)域，此區(qū)域一般呈菱形。

4、水浸探頭：可浸在水中檢測(cè)的非接觸式探頭，結(jié)構(gòu)與直探頭相似不需要保護(hù)膜。

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關(guān)于超聲波測(cè)厚儀探頭的維護(hù)

1.探頭避免因投擲、跌落、拉扯導(dǎo)致的損壞。

2.探頭電纜連線(xiàn)更換的時(shí)候應(yīng)手握電纜線(xiàn)的金屬部分，防止探頭斷線(xiàn)。

3.探頭應(yīng)盡量避免在粗糙不平的表面上摩擦、移動(dòng)，如因探測(cè)需要進(jìn)行線(xiàn)性移動(dòng)測(cè)量，需要事前將表面清理并涂抹適量的耦合劑。

4.測(cè)量完畢應(yīng)擦去耦合劑，保持探頭的清潔并放入專(zhuān)用保存盒內(nèi)。